学术报告:实时原位电子显微学表征在材料研究中的应用

发布时间:2017-06-07  浏览次数:

 

报告题目:实时原位电子显微学表征在材料研究中的应用

报告人:徐强博士

报告时间:6 9 号(星期五)上午930-1130

地点:四号楼205 会议室

 

报告人简介:

徐强博士1999 年毕业于清华大学材料科学与工程系,获学士学位;2002年硕士毕业于清华大学电镜中心,师从我国著名的电镜学家朱静院士;2007 年博士毕业于荷兰国家电镜实验中心。2007 年到2009 年间,在荷兰Delft 大学做博士后,2009 年到2011 年间在比利时EMAT 国家电镜中心做博士后。随后,自2012 年起,在Delft 大学做Research Scientist。主要从事原位电子显微镜学,在ScienceNature CommunicationAdvanced Materials SCI 期刊上发表论文五十余篇。目前和合作导师将研制的电镜原位样品台系统开发成标准产品,并出任DENSsolutions 公司应用总监,致力于全球市场原位技术的推广和产品开发研究,目前国内外多所知名大学电镜中心如斯坦福大学、剑桥大学、牛津大学、德国Max Planck 研究所、清华大学、北京大学、浙江大学等都已成为该原位样品台的用户。

 

报告摘要:

透射电子显微技术(TEM)在材料形貌、结构的表征中发挥着重大作用,是我们研究和表征材料不可或缺的重要工具之一。原位透射电子显微技术的发展使得在原子尺度上实时动态观察物质在热、电、气、压力和液体等外部条件作用下的微结构演化成为可能,实现了在TEM内部对物理和化学反应的动态、实时原位观测。原位TEM技术通过研究物质在外界环境作用下的微结构演化规律,揭示其原子结构与物理化学性质的相关性,指导其设计合成和微结构调控,促进新物质的探索和深层次物质结构研究,为解决材料的形核及生长,界面反应,电化学反应,新能源、生物矿化,和催化反应等领域的具体问题提供了直接、准确和详细的方法。目前国际上越来越多的研究者已经利用实时原位电子显微学表征技术在所研究领域获得了突破,本次报告将重点分享在材料领域最新的研究成果。

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